RFID测试仪
仪器编号 | 2016001 | 规格型号 | RI200 |
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生产制造商 | 聚星仪器 | 产地国别 | 中国 |
收费标准 | 280元/小时 | 启用日期 | 21/10/2016 |
设备存放地址 | 厦门湖里区港中路1694号万翔商务中心2号楼南楼3层 | ||
实验室管理员 | 周琦 | 预约电话 | 0592-2529611 |
对外共享规定 | 请提前预约,最长预约使用30天 | ||
仪器状态 | 正常 | 预约仪器 | 请先登录 |
RFID测试系统是基于PXI矢量射频模块和FPGA核心的基带模块,集成了自主研发的射频识别测试软件,能够实时发射并采集射频识别通讯的射频信号,进行完整的射频参数及协议参数的分析测试。它能实现超高频的射频识别标签及阅读器产品的协议一致性测试和射频性能测试。测试能力符合ISO18000-6C,EPC UHF Class1 Gen2标准中规定的物理层和协议层主要测试项目,并且具备单步检测模式和自动化流程检测模式。
主要技术指标:
●载波频率:860-960MHz;Frequency Accuracy 10 Ppm
●调制方式:DSB/SSB-ASK or PR-ASK;Modulation Depth/Index 80%-100 %;Response Modulation :ASK or PSK
●射频包络:PowerOn/Off Time <500us;Power On/Off Ripple <5%;Power Off Level <1%;TransitionTime 0-0.33Tari;Transition Ripple <5%;Pulse Width 0.265-0.525 Tari;DutyCycle 50%
●数据编码:PIE x 0.5-1.0;Response Coding :FM0,Miller 2,4,8
●传输码率:26.67-128 kbps;Response Link Frequency 40-640 kHz;Response Data Rate 5-640 kbps
●链接时间:Tari6.25-25 us;Turn-around Time T1 Max(RTcal,10Tpri)x(1±FT) ±2 us;Turn-aroundTime T2 3.0-20.0 Tpri;Turn-around Time T3 >0.0Tpri;Turn-around Time T4 >2.0 RTcal
●帧结构:Delimiter12.5us;RTcal 2.5-3.0 Tari;TRcal1.1-3.0 RTcal;Divide Ratio 8, 64/3;TRext0, 1
●指令集:Select, Query, QueryAdjust, QueryRep, ACK, NAK, Req_RN, Read, Write, Kill, Lock;Optional Commands:Access,BlockWrite, BlockErase, BlockPermaLock
●标签内存:PC, EPC, CRC16, TID, User Bank, Access Password, Kill Password
●协议状态:Ready, Arbitrate, Reply, Acknowledged, Open, Secured, Killed